Científicos chinos logran avance clave en pruebas de micro-LED con método no destructivo de contacto suave

PEKÍN, CHINA.– Un equipo de investigadores chinos ha desarrollado un método revolucionario y no destructivo para la prueba de obleas de tecnología micro-LED, resolviendo uno de los desafíos más persistentes en la industria de pantallas avanzadas: la inspección electroluminiscente sin dañar los delicados materiales.

El nuevo enfoque, recientemente publicado en la prestigiosa revista Nature Electronics, se basa en un sistema de contacto suave mediante una matriz de sondas tridimensionales flexibles, capaces de adaptarse con extrema precisión a las microscópicas irregularidades de las obleas de micro-LED.

Este sistema aplica una presión de apenas 0,9 megapascales, una fuerza equivalente a la de una respiración suave y hasta 10,000 veces menor que la de las sondas metálicas tradicionales utilizadas en la industria, las cuales con frecuencia dañan o degradan las obleas durante la inspección.

Un impulso a la industria china de micro-LED

Con este avance, China da un paso decisivo en su ambición de liderar la industria global del micro-LED, una tecnología clave para las pantallas del futuro en dispositivos móviles, televisores, realidad aumentada y automóviles inteligentes.

El método no solo promete mayor eficiencia y precisión en el control de calidad, sino que también reduce significativamente los costos de producción al minimizar el desperdicio de materiales y aumentar la tasa de éxito en las líneas de ensamblaje.

Aplicaciones más allá de los micro-LED

Además, la innovación tiene implicaciones más allá de la industria de pantallas. Al estar basada en electrónica flexible y adaptable, esta tecnología abre nuevas posibilidades para dispositivos médicos, sensores biométricos, robótica blanda y electrónica vestible, áreas donde la precisión y el cuidado con materiales sensibles es esencial.

Este logro consolida el papel de los centros de investigación chinos en el desarrollo de soluciones tecnológicas avanzadas, orientadas a escalar la fabricación y ampliar las fronteras de la innovación electrónica.

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By: Ruperto Alis / Imparcial RD

A Chinese research team has developed a contact-based, non-destructive method for micro-LED wafer testing, addressing a longstanding challenge in electroluminescence inspection of micro-LED technology. The soft-contact approach uses a flexible three-dimensional probe array… pic.twitter.com/kspf2Hp6kw

— China Science (@ChinaScience) June 16, 2025